Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
13KRJ Komplexní řízení jakosti Rozsah výuky:3+2
Přednášející (garant):Mach P. Typ předmětu:Z Zakončení:Z,ZK
Zodpovědná katedra:313 Kreditů:6 Semestr:Z

Anotace:
Časové závislosti kvality a spolehlivosti. Kvantitativní pojetí spolehlivosti a řízení jakosti v Japonsku a USA. Kvantifikace spolehlivosti dle norem ISO 9000. Zálohování. Fyzika poruch. Arrheniův a Eyringův vztah. Předpověď spolehlivosti. Matematické modelování. SPC a její zavedení v elektrotechnické výrobě. Certifikace a akreditace kvality technologického procesu.

Osnovy přednášek:
1. Význam řešení spolehlivosti, pojem kvality, časová závislost
2. Spolehlivost, kvant. koef. Japonská a americká cesta CQC
3. Označování a zjišťování spolehlivosti. Zálohování. Normy ISO 9000
4. Fyzika poruch. Mechanismy znehodnocování elektronických součástek
5. Arrheniův a Eyringův zákon. Fyzikální modely spolehlivosti
6. Předpověď a výpočet spolehlivosti. Typy měřicích metod
7. Optimalizace výrobních procesů, matematické modelování
8. Třídění a test. součástek. Vliv tolerance na spolehlivost
9. Vliv prostředí, tepla a záření na spolehlivost
10. Sedm Ishikawových nástrojů řízení jakosti
11. Metodika SPC a základní předpoklady
12. Studie dosažitelné přesnosti
13. Regulační diagramy
14. Kvalita, certifikace, akreditace

Osnovy cvičení:
1. Výklad laboratorních úloh. Bezpečnost práce
2. Zjišťování těsnosti elektronických výrobků
3. Termografie v reálném čase, měření termovizí
4. Holometrie a její využití pro kontrolu výroby
5. Měření intenzity ionizačních zdrojů . Zadání semestr. práce
6. Měření elektrostatických nábojů v laboratoři 7. Měření zbytkových nábojů na kapacitorech
8. Optická vlákna pro čidla teploty
9. Demonstrace diagnostiky pro odhad kvality - EZÚ
10. Demonstrace užití dozimetrie pro odhad kvality - FJFI
11. Přihlašování vynálezů, patentová ochrana. Copyright
12. Praktické řešení spolehlivosti - obhajoba semestr. prací
13. Praktické řešení klimatotechnologie - obh. sem. prací
14. Hodnocení semestr. prací a referátů z měření. Zápočet

Literatura Č:
[1] Ryšánek, Vl.: Řízení jakosti a spolehlivosti elektronických výrobků. Skripta ČVUT, Praha 1990
[2] Václavek, J.: Statistická regulace výr. procesů, Bartoň QSV, Č. Budějovice, 1996
[3] Middleman, S.: Process engineering analysis in semiconductor device fabrication, McGraw-Hill, N.Y. 1993

Literatura A:
[1] Middleman, S.: Process engineering analysis in semiconductor device fabrication. McGraw-Hill, N.Y. 1993

Požadavky:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 19+4
Typ cvičení: s, l
Předmět je nabízen také v anglické verzi.

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
Plán Obor Role Dop. semestr
*TS Technologické systémy Z 9


Stránka vytvořena 25. 2. 2002, semestry: Z/2001-2, Z/2002-3, L/2001-2, L/2002-3, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)