Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
37VFM VF obvody a měření Rozsah výuky:2+2
Přednášející (garant):Horevaj M. Typ předmětu:S Zakončení:Z,ZK
Zodpovědná katedra:337 Kreditů:4 Semestr:L

Anotace:
Tématicky je předmět zaměřen na vysokofrekvenční obvodovou a měřicí techniku. Je určen především pro obor "Měření a přístrojová technika". V přednáškách je kladen důraz na metodiku návrhu vf obvodů v měřicích aplikacích a jsou diskutovány koncepce moderních měřicích přístrojů a vlastnosti aktivních a pasivních vf součástí. Cvičení jsou laboratorní.

Osnovy přednášek:
1. Pasivní součásti vf obvodů se soustředěnými parametry
2. Rezonanční obvod a jeho vf vlastnosti, rezonanční měřicí přístroje
3. Součásti obvodů s rozloženými parametry, obvody s videm TEM
4. Mikrovlnné obvody v měřicí technice, vlnovody, mikropásky, YIG
5. Měřicí přístroje a obvody pro optické spoje, metodika měření
6. Metody návrhu a analýzy vf obvodů, CAD, Smithův diagram
7. Metody a přístroje pro měření pasivních součástí na vf
8. Aktivní součásti vf obvodů, vf a šumové parametry
9. Metody, přístroje a systémy pro měření aktivních součástí
10. VF vektorové analyzátory, měřicí obvody - splitter, směrový vazební člen
11. Zdroje vf signálů, vf oscilátory, rozmítané, krystalové
12. Měřiče parametrů vf signálů, analyzátory modulačních parametrů a spekter
13. VF laboratorní technika, rušení, vazby, EMC, stínění, stíněné prostory
14. Vysokofrekvenční normály, technika kalibrace, analýza chyb

Osnovy cvičení:
1. Zásady laboratorní práce, deník, zpracování výsledků, bezpečnost
2. Měření parametrů vf obvodů rezonanční metodou (Q, L, R, C, M, tgd, k)
3. Experiment na měrném vedení, činitel odrazu, PSV, činitel zkrácení
4. Měření parametrů náhradního obvodu krystal.rezonátoru, dolaďování
5. Vektorová měření v obvodech s rozloženými parametry, přizpůsobení
6. Měření rozptylových parametrů vf tranzistorů (s11,s12,s21,s22)
7. Experiment s RC oscilátorem (zkreslení, stabilita amplitudy, frekvence)
8. Experiment s antialiasingovým filtrem, návrh, realizace, měření
9. Přesné měř. frekv. (krátkodobá a dlouhodobá stabilita, doba náběhu, tepl. stab.)
10. Měření parametrů signálů osciloskopickými metodami
11. Měření parametrů modulovaných signálů spektrálním analyzátorem
12. Měření parametrů náhradního obvodu pasivních vf součástek, frekv. závislosti
13. Měření mikrovlnných součástí v pásmu 10 GHz, izolátor, cirkulátor, směr. vazba
14. Závěrečné hodnocení, kontrolní měření, zápočty

Literatura Č:
[1] Egen, G.F.: Microwave Circuit Theory and Foundations of Microwave Metrology. Peter Peregrinus Ltd., . London 1992
[2] Coombs, C.F.Jr.,,ed.: Electronic Instrument. McGraw-Hill, Inc., NY 1994

Literatura A:
[1] Egen, G.F.: Microwave Circuit Theory and Foundations of Microwave Metrology. Peter Peregrinus Ltd., . London 1992
[2] Coombs, C.F.Jr.,,ed.: Electronic Instrument. McGraw-Hill, Inc., NY 1994

Požadavky:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4
Charakter cvičení: l

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
Plán Obor Role Dop. semestr
*MT Měření a přístrojová technika S 8


Stránka vytvořena 25. 2. 2002, semestry: Z/2001-2, Z/2002-3, L/2001-2, L/2002-3, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)