XD38DCZ | Diagnostika číslicových zařízení | Rozsah výuky: | 12+6 | ||
---|---|---|---|---|---|
Přednášející (garant): | Novák J. | Typ předmětu: | S | Zakončení: | KZ |
Zodpovědná katedra: | 338 | Kreditů: | 4 | Semestr: | Z,L |
Anotace:
Předmět je zaměřen na metody testování a měření v číslicových zařízeních. Popisuje funkce a použití přístrojů používaných v číslicové technice. V teoretičtěji orientované části seznamuje se základy šíření číslicových signálů, reflektometrií a metastabilitou. Dále se zabývá měřením na standardních počítačových sběrnicích a sériových komunikačních linkách. V závěru je představena technologie JTAG, určená pro testování číslicových systémů metodou "boundary scan".
Osnovy přednášek:
Přednášky budou probíhat prvních 7 týdnů po 2 hodinách.
1. | Číslicová měření - účel, metody a prostředky. | |
2. | Výrobní technologie logických obvodů a její vliv při měření. | |
3. | Logické sondy, pulsery, generátory číslicových dat. | |
4. | Analogové osciloskopy - speciální funkce, parametry a příslušenství. | |
5. | Číslicové osciloskopy - DSO a DPO, speciální spouštění, parametry a příslušenství. | |
6. | Metodika a příklady využití osciloskopů v číslicové technice. | |
7. | Praktický pohled na šíření digitálních signálů, reflektometrie. | |
8. | Logické analyzátory - speciální funkce, módy spouštění, parametry a příslušenství. | |
9. | Metodika a příklady využití logických analyzátorů v číslicové technice. | |
10. | Metastabilita a synchronizace. | |
11. | Měření na standardních sběrnicích - ISA, VME, PCI ... | |
12. | Speciální analyzátory, diagnostika sběrnice SCSI. | |
13. | Diagnostické rozhraní JTAG, metoda boundary scan. | |
14. | Měření a diagnostika sériových komunikačních kanálů. |
Osnovy cvičení:
1. | Úvod - rozdělení, bezpečnost práce. | |
2. | Měření statických parametrů integrovaných obvodů různých technologií. | |
3. | Měření dynamických parametrů integrovaných obvodů různých technologií. | |
4. | Digitální osciloskop - měření pro pokročilé. | |
5. | Logický analyzátor - měření pro pokročilé. | |
6. | Diagnostika rozhraní Centronics. | |
7. | Sledování sběrnice PCI logickým analyzátorem. | |
8. | Reflektometrie - diagnostika kabeláže. | |
9. | Metastabilita klopných obvodů. | |
10. | Měření na sériových sběrnicích. | |
11. | Diagnostika SCSI rozhraní, použití specializovaného analyzátoru SCSI. | |
12. | Analýza činnosti mikroprocesoru logickým analyzátorem. | |
13. | Jednoduchá diagnostika systému s rozhraním JTAG. | |
14. | Závěrečné cvičení - náhrady a zápočty. |
Literatura Č:
1. | Kreidl, M. a kol.: Diagnostické systémy. Vydavatelství ČVUT, Praha 2001 | |
2. | www.tektronix.com | |
3. | www.agilent.com | |
4. | www.ti.com |
Literatura A:
1. | Young, Brian: Digital Signal Integrity. Prentice Hall 2001 | |
2. | www.tektronix.com | |
3. | www.agilent.com | |
4. | www.ti.com |
Požadavky:
Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
|
Stránka vytvořena 25. 2. 2002, semestry: Z/2001-2, Z/2002-3, L/2001-2, L/2002-3, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů | Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336) |