Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
X38DCZ Diagnostika číslicových zařízení Rozsah výuky:2+2
Přednášející (garant):Novák J. Typ předmětu:S Zakončení:KZ
Zodpovědná katedra:338 Kreditů:4 Semestr:Z,L

Anotace:
Předmět je zaměřen na metody testování a měření v číslicových zařízeních. Popisuje funkce a použití přístrojů používaných v číslicové technice. V teoretičtěji orientované části seznamuje se základy šíření číslicových signálů, reflektometrií a metastabilitou. Dále se zabývá měřením na standardních počítačových sběrnicích a sériových komunikačních linkách. V závěru je představena technologie JTAG, určená pro testování číslicových systémů metodou "boundary scan".

Osnovy přednášek:
Přednášky budou probíhat prvních 7 týdnů po 2 hodinách.
1. Číslicová měření - účel, metody a prostředky.
2. Výrobní technologie logických obvodů a její vliv při měření.
3. Logické sondy, pulsery, generátory číslicových dat.
4. Analogové osciloskopy - speciální funkce, parametry a příslušenství.
5. Číslicové osciloskopy - DSO a DPO, speciální spouštění, parametry a příslušenství.
6. Metodika a příklady využití osciloskopů v číslicové technice.
7. Praktický pohled na šíření digitálních signálů, reflektometrie.
8. Logické analyzátory - speciální funkce, módy spouštění, parametry a příslušenství.
9. Metodika a příklady využití logických analyzátorů v číslicové technice.
10. Metastabilita a synchronizace.
11. Měření na standardních sběrnicích - ISA, VME, PCI ...
12. Speciální analyzátory, diagnostika sběrnice SCSI.
13. Diagnostické rozhraní JTAG, metoda boundary scan.
14. Měření a diagnostika sériových komunikačních kanálů.

Osnovy cvičení:
1. Úvod - rozdělení, bezpečnost práce.
2. Měření statických parametrů integrovaných obvodů různých technologií.
3. Měření dynamických parametrů integrovaných obvodů různých technologií.
4. Digitální osciloskop - měření pro pokročilé.
5. Logický analyzátor - měření pro pokročilé.
6. Diagnostika rozhraní Centronics.
7. Sledování sběrnice PCI logickým analyzátorem.
8. Reflektometrie - diagnostika kabeláže.
9. Metastabilita klopných obvodů.
10. Měření na sériových sběrnicích.
11. Diagnostika SCSI rozhraní, použití specializovaného analyzátoru SCSI.
12. Analýza činnosti mikroprocesoru logickým analyzátorem.
13. Jednoduchá diagnostika systému s rozhraním JTAG.
14. Závěrečné cvičení - náhrady a zápočty.

Literatura Č:
1. Kreidl, M. a kol.: Diagnostické systémy. Vydavatelství ČVUT, Praha 2001
2. www.tektronix.com
3. www.agilent.com
4. www.ti.com

Literatura A:
1. Young, Brian: Digital Signal Integrity. Prentice Hall 2001
2. www.tektronix.com
3. www.agilent.com
4. www.ti.com

Požadavky:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 12+6
Typ cvičení: l
Předmět je nabízen také v anglické verzi.
Bc. - F

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
Plán Obor Role Dop. semestr
BSP Před zařazením do oboru F Není
BKM Kybernetika a měření S 6


Stránka vytvořena 25. 2. 2002, semestry: Z/2001-2, Z/2002-3, L/2001-2, L/2002-3, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)